產品介紹

聚焦離子束顯微鏡 Helios 5 DualBeam 重(zhong)新定(ding)義了高(gao)分辨率成像的(de)(de)標準：高(gao)材料對比度，快(kuai)、簡單(dan)、準確的(de)(de)高(gao)質量樣品制備，用于 S/TEM 成像和原子探針斷層掃描（APT）以(yi)及(ji)高(gao)質量的(de)(de)亞(ya)表面和 3D 表征(zheng)。

聚焦離子束顯微鏡特點：

更易于使用：

Helios 5 是所有(you)體驗(yan)級別用戶容易使用的 DualBeam。操作員(yuan)培訓可(ke)以從(cong)幾(ji)個(ge)月縮(suo)短到幾(ji)天(tian)，系統設(she)計可(ke)幫助所有(you)操作員(yuan)在各種高級應(ying)用程序上實現一致、可(ke)重復的結果。

提高了生產率：

Helios 5 和 AutoTEM 5 軟(ruan)件的先(xian)進(jin)自動化功能，增強的穩健性(xing)和穩定性(xing)允許(xu)無人值守甚至夜間操作，顯(xian)著(zhu)提高樣品(pin)制備通量。

改善時間和結果：
Helios 5 DualBeam 現在包括 FLASH，這是一種調(diao)整圖像(xiang)的新(xin)概念。對于傳統的顯(xian)微鏡(jing)，每次操(cao)作員需要(yao)獲取圖像(xiang)時，必須通過迭代對中仔細調(diao)整顯(xian)微鏡(jing)。使用 Helios 5 DualBeam，屏幕上的簡單手勢將(jiang)激活 FLASH，將(jiang)自(zi)動調(diao)整這些參(can)數。自(zi)動調(diao)整可以顯(xian)著提(ti)高通量、數據質量并簡化高質量圖像(xiang)的采集(ji)。